原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)是一項(xiàng)重要的納米技術(shù),它能夠幫助科學(xué)家觀測和測量微觀世界中的物質(zhì)和表面特征。通過使用原子力顯微鏡,我們能夠更深入地研究納米尺度上的物質(zhì)行為,從而為實(shí)現(xiàn)納米科技的進(jìn)一步發(fā)展提供支持和指導(dǎo)。 原子力顯微鏡的工作原理可以簡單地概括為在掃描探針與樣品表面之間施加一定的力,然后測量探針的位置變化。通過控制和記錄力的大小和探針的位置